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工具顯微鏡光柵尺磁柵尺數(shù)顯改裝和維修內(nèi)容
點擊次數(shù):2756 更新時間:2022-04-17

工具顯微鏡光柵尺磁柵尺數(shù)顯改裝和維修內(nèi)容

改造內(nèi)容、維修內(nèi)容

改造內(nèi)容:

1、增加200mm傳感器                                        1套      

2、增加100mm傳感器                                        1套

3、兩套數(shù)字信號讀數(shù)頭(分辨率0.2μm)                       2套    

4、配信號轉換盒                                           1套    

5、配二維計算機輔助測試軟件                               1套

6、聯(lián)想計算機、噴墨打印機                                 各一套

7、增加相關專用連接附件(縱向、橫向)                     2套  

8、增加反射照明燈裝置(LED燈)                            1套          

9、現(xiàn)場技術培訓。  

 

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維修內(nèi)容 

1、對儀器縱向?qū)к壷本€性進行修理及調(diào)整,使其滿足檢定要求,

2、對儀器橫向?qū)к壷本€性進行修理及調(diào)整,使其滿足檢定要求,            

3、對儀器縱向?qū)к墶M向?qū)к壱苿拥南嗷ゴ怪倍冗M行修理及調(diào)整,使其滿足檢定要求, 

4、對儀器金屬置物臺面對縱向?qū)к墶M向?qū)к夁\動的平性度進行修理及調(diào)整,使其滿足檢定要求,

5、修理及調(diào)整玻璃工作臺面對縱向?qū)к墶M向?qū)к夁\動的平性度,使其滿足檢定要求,

6、修理及調(diào)整玻璃工作臺面對顯微鏡臂架在立柱上、下移動的垂直度,使其滿足檢定要求, 

7、修理及調(diào)整儀器立柱偏擺與頂針架的一直性,使其滿足檢定要求,

8、對儀器主光源系統(tǒng)進行清擦及調(diào)整,使其滿足使用要求, 

9、對立柱偏擺光學讀數(shù)系統(tǒng)進行清擦及調(diào)整,使其滿足使用要求,

10、對測角目鏡光學系統(tǒng)進行清擦及調(diào)整,使其滿足使用要求。 

 傳感器安裝方法:

1、在縱向座上安裝200mm光柵尺傳感器一根,在底座上安裝數(shù)字信號讀數(shù)頭(分辨率0.2μm)一套,并調(diào)整它們之間的位置關系,使之達到讀數(shù)要求;

2、在橫向座上安裝100mm光柵尺傳感器一根,在底座上安裝數(shù)字信號讀數(shù)頭(分辨率0.2μm)一套,并調(diào)整它們之間的位置關系,使之達到讀數(shù)要求;

3、在導軌右側或左側安裝數(shù)顯箱,配220V電壓; 

4、在儀器坐廁放置計算機。


二維測量軟件功能介紹

二維計算機測量軟件是二坐標計量儀器的配套軟件,用于采集被測件上的坐標點,再處理成直線,圓和圓弧,并求取它們之間的相互關系,軟件還有部分形位誤差處理功能。



萬能工具顯微鏡可以測量零件的長度、角度、螺紋等諸多幾何量參數(shù),是長度計量檢測中使用*多的一種測試儀器,因此廣泛應用于機械加工業(yè)的各類企業(yè)。但隨著現(xiàn)代工業(yè)的發(fā)展以及科技的進步,傳統(tǒng)的老式萬工顯已難以滿足要求,因此很有必要對其進行工藝改造。本文以*常用的 JX7 型萬能工具顯微鏡為例,介紹對萬能工具顯微鏡的數(shù)顯工藝改造。 

通過用數(shù)顯技術對萬工顯進行改造,提升了原有儀器的檔次,減輕了檢驗人員的勞動強度特別是保護檢驗人員的眼睛,同時避免了繁瑣的計算,顯著提高了測量效率和測量精度。

一、 數(shù)顯系統(tǒng)的改型 
    根據(jù)用戶多年在設備中應用光柵、磁柵以及球柵數(shù)顯系統(tǒng)的經(jīng)驗,比較不同數(shù)顯系統(tǒng)的特點并通過性能和精度檢測,選擇SINO信和或新天光柵數(shù)顯系統(tǒng)。該系統(tǒng)具有制造精度高、穩(wěn)定性好、可靠性好以及裝置簡單、調(diào)試方便、對環(huán)境要求不高等優(yōu)點,適合用于萬工顯的改造。 
    根據(jù) JX7 型萬工顯的測量范圍為縱坐標 200mm 、橫坐標 100mm ,選用 KG1 型測量范圍 250mm 和測量范圍 100mm 兩根光柵;選用配套的 GS-2000 型兩軸數(shù)顯表(*小分辨率為 0.2 μ m ),它具有傳感器的接口,可與 KG1 型原裝計量傳感器進行配套。 
二、數(shù)顯系統(tǒng)的裝置 
    由于加裝數(shù)顯系統(tǒng)必須在不影響儀器原有光學系統(tǒng)的前提下進行,所以采用圖 1 所示裝置方案:將 250mm 的長磁尺裝置在縱向?qū)к壍挠覀龋ㄗ髠仁莾x器原有的玻璃刻度尺),因裝置位置所限右側須加裝一個支承塊,用來固定光柵的右端; 100mm 的光柵裝置在橫向?qū)к壍?*(圖 1B 處)。按照說明書上的裝置工藝條件,分別將兩個尺子裝置基面調(diào)整到與縱、橫向?qū)к夁\動方向(水平方向和垂直方向)平行,其平行度< 0.1mm (通常裝置時都能方便地調(diào)整到 0.05mm 以內(nèi))。 
三、數(shù)顯系統(tǒng)的調(diào)試 
    縱坐標的調(diào)試:取下一起縱向?qū)к壣系牟AЧぷ髋_,將一塊 200mm 的 3 等量塊兩端分別研上 10mm 的量塊附件,將其裝置在縱向?qū)к壒窝谢妫ㄒ妶D 1 量塊安置處),使其與光柵尺裝置在同一直線上,以減少阿貝差別。再用裝置在儀器橫向滑架上的計量傳感器測頭與量塊的一端接觸,此時數(shù)顯表開始計數(shù),然后移動縱向?qū)к壥箓鞲衅鳒y頭與量塊的另一端接觸,在接觸的瞬間數(shù)顯表停止計數(shù)并保持數(shù)據(jù)。數(shù)顯表的顯示值與量塊的實際尺寸之差就是數(shù)顯系統(tǒng)的差值。該差值若小于 3 μ m 則不必修正,若大于 3 μ m 時可根據(jù)差值的大小通過數(shù)顯表的差別補償系統(tǒng)進行線性補償,可使差別小于規(guī)定的數(shù)值甚至接近于零。 
    以同樣的方法用 100mm 的量塊對橫坐標進行調(diào)試,此不贅述。 
四、數(shù)顯系統(tǒng)的檢定 
    根據(jù)萬工顯檢定規(guī)程中的相關規(guī)定,需要檢定讀數(shù)裝置的示值差別、讀數(shù)裝置的回程差別和示值差別。 
( 1 ) 讀數(shù)裝置的示值差別檢定 
    對數(shù)顯系統(tǒng)來說,讀數(shù)裝置的示值差別就是數(shù)顯表的*小分辨率,即± 0.5 μ m ,無須檢定。 
( 2 )讀數(shù)裝置的示值差別的檢定(相當于磁柵尺的重復性) 
    光柵尺讀數(shù)裝置就其構造和原理來說是沒有回程差別的,當然這需要很高的工藝水平做保證。通過用 0.1 μ m 的電感測微儀反復測試,光柵尺讀數(shù)裝置的回程差別*大不超過 0.5 μ m 。 
( 3 )示值差別的檢定(相當于磁柵尺的精度) 
    用檢定極限差別不大于 0.5 μ m 的玻璃刻度尺作為標準,按照規(guī)程規(guī)定的條件方法對縱、橫向分別進行檢定;若沒有玻璃刻度尺,可用萬工顯原有的刻度尺與光柵尺進行比較檢定,并用儀器原有的示值差別進行修正,以確定光柵尺各被檢點的實際差別,若有超差再用線性補償系統(tǒng)進行補償。 

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